Hybrid-Messtechnik für Dünnschichten – Intersolar Europe 2014

Neues Messgerät bestimmt gleichzeitig den Schichtwiderstand und die optische Transparenz von leitfähigen Dünnschichten.

Hybrid-Messtechnik für Dünnschichten - Intersolar Europe 2014

Schichtwiderstands-Mapper EddyCus TF map 2020SR

Die SURAGUS GmbH stellt auf der Intersolar Europe 2014 in München zwei neuartige Messsysteme zur zerstörungsfreien Prüfung von Dünnschichten vor. Im Mittelpunkt steht dabei der berührungslos arbeitende EddyCus® TF lab Hybrid . Das Messgerät bestimmt den Schichtwiderstand und gleichzeitig die optische Transparenz von Dünnschichten. Damit präsentiert das mit dem sächsischen Innovationspreis ausgezeichnete Dresdner Unternehmen eine innovative und schnelle Lösung zur berührunslosen Charakterisierung von verdeckten leitfähigen Dünnschichten.

Eine weitere Neuheit ist der Schichtwiderstands-Mapper EddyCus® TF map 2020SR . Das neue Mappingssystem ermöglicht die berührungslose Echtzeitmessung des Schichtwiderstandes und der Schichtdicke von hoch und niedrig leitfähigen Dünnschichten auf Glas, Wafern, Kunststoff- und Metallfolien. Dabei liefert das Gerät ein besonders hochauflösendes Leitfähigkeitsbild des Schichtwiderstandes und der Schichtdicke.

Die Intersolar Europe ist eine der weltweit größten Fachmessen für die Solarwirtschaft. Vom 4. Bis 6. Juni stellen dort rund 1100 Aussteller ihre Produkte vor.

Weitere Informationen unter:
http://www.suragus.com/de/glas-und-folien
http://www.sheet-resistance-measurement.com Bildquelle:kein externes Copyright

Die SURAGUS GmbH ist eine Ausgründung des Fraunhofer Instituts für zerstörungsfreie Prüfverfahren
Dresden und entwickelt Systeme zur berührungslosen inline- und offline- Charakterisierung von
Carbonfaserwerksstoffen und Dünnschichten. Diese beinhaltet u. a. die Messung des
Schichtwiderstandes und der Schichtdicke von dünnen Metallbeschichtungen (Al, Mo, Zn, Ag),
funktionalen transparenten Dünnschichten auf Glas auf Folie (ITO, Graphene, Metall grid, CNT,
Nanodrähte) und Wafer-basierten Systemen über Einpunkt-Meßgeräte sowie Inline und Mapping-
Lösungen. Des Weiteren entwickelt SURAGUS Testlösungen für die Strukturanalyse von Kohlefaser-Werkstoffen (RCF, Carbongelege, Carbongewebe, Carbonfliese, Prepegs und CFK) und für die Bestimmung lokaler Flächengewichtsveränderungen.

Anwendung findet die Technologie in der berührungslosen Schichtwiderstandsmessung von funktionalen Dünnschichten (TCOs, CNTs, Metallisierungen, Silber-Nano-Drähten) sowie der berührungslosen Orientierungsprüfung und Defektoskopie in Carbonfaserwerkstoffen (Ondulationen, Impacts, Gasen, Aufschiebungen). Zudem ist eine berührungslose Flächengewichtsbestimmung in vielen Carbonfaserwerkstoffen sowie die Bestimmung von Verfestigungsgradienten von Superlegierungen. Des Weiteren kann eine Schichtdickenmessung von Dünnschichten und Beschichtungen bereits ab 5 nm Dicke erfolgen. Weitere Anwendungsmöglichkeiten bestehen im Fehlermapping in leitfähigen Schichtsystemen (Risse, Poren, Delaminationen u.v.m.).

SURAGUS
Alexander Neitzel
Maria-Reiche-Straße 1
01109 Dresden
0351 273 598 02
alexander.neitzel@suragus.com
http://www.suragus.com

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